大電流探針常見問題

測試過程中的問題

與DUT接觸不良：大電流探針未與被測設(shè)備（DUT）完全接觸，會影響信號或電流從DUT傳遞給測試人員，使用錯誤的探針尖端也可能導(dǎo)致接觸問題。

彈簧探針力弱：彈簧探針的力是測試探針的壓力，力弱會影響與DUT的緊密接觸，不利于測試。

夾具板散熱效果不好：探針作為接觸大電流DUT的導(dǎo)體，在大電流測試過程中會散發(fā)熱量，若夾具板散熱效果差，會影響探針承載大電流的性能。

電流理解有誤：容易誤解連續(xù)電流和峰值電流，連續(xù)電流是連續(xù)提供的穩(wěn)定值，而峰值電流是在供電期間出現(xiàn)的最高電流值。

連接方法不良：采用不良測試探針插座連接方法，以及普通的測試探針用于測試大電流DUT，都可能導(dǎo)致測試問題，如標(biāo)準(zhǔn)接觸式探針在大電流測試中可能會被燒毀。

自身損壞問題

滑動夾子外觀損壞：電流探頭的滑動夾子外觀損壞，可能會影響測試準(zhǔn)確性。

電纜線斷路：電纜線被太使勁拉、扭等容易損壞，造成斷路，影響測試。

磁環(huán)及線圈問題：磁環(huán)是易碎材料，掉地或使用時用力過猛會使其破損，有損壞的磁環(huán)會造成測試不準(zhǔn)或不能再測出電流；磁環(huán)線圈比較細(xì)，過流會導(dǎo)致線圈燒毀。

電路板損壞：電流放大器開電后，插拔電流探頭可能會引起電路板損壞。

讀數(shù)不準(zhǔn)確問題

內(nèi)部電路故障：電流表（可類比大電流探針檢測原理）內(nèi)部電路可能存在故障，例如電源、線圈或靈敏度調(diào)節(jié)器出現(xiàn)問題，導(dǎo)致指針移動不當(dāng)或錯誤，從而影響讀數(shù)。

電源電壓問題：如果大電流探針使用的電源電壓低于或高于其規(guī)定的電源電壓，則可能導(dǎo)致錯誤的讀數(shù)。

磁場影響：大電流探針可能被暴露在磁場中，例如附近有強(qiáng)磁鐵或變壓器，這可能會導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確。

電路多余電流：電路中可能存在多余的電流，例如在電路中使用被非法連接的電子器件、過高的負(fù)載、導(dǎo)線損耗等引起的電阻變化等，這些因素可以導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確。