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產品型號:020-XX-11L 所屬分類:雙頭探針 產品頭型:探針外徑為0.20mm,總長度為11mm 產品優勢:產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低 主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要應用行業:手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。 熱線電話:400-183-6682
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探針測試行業發展趨勢(1)設備將向高精度化方向發展現階段半導體器件主要通過提高集成度的方式實現更多功能或更快響應。為此,半導體制造過程一般會縮小器件特征尺寸,如高端邏輯芯片的電路制程線寬已由微米級別縮小至納米級別,最小已達3納米;在光電芯片中,最小的Micro LED尺寸也已經縮小至50μm以下。此外,為避免器件集成度提高后單位制造成本過度上漲,業界一般使用更大尺寸的晶圓,通過在單片晶圓片上制造更多的芯片并提高邊緣區域使用率的方法降低單位制造成本,目前主流晶圓尺寸已從4英寸、6英寸,逐步發展到8英寸和12英寸。
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